半导体器件间歇工作寿命试验设备

标准号

T/ZAQ 10113-2022

标准名称

半导体器件间歇工作寿命试验设备

状态

现行

发布日期

2022-10-14

实施日期

2022-10-20

ICS 分类

17.040.30 测量仪器仪表

CCS 分类

L87 电子试验用仪器设备

起草单位

杭州高坤电子科技有限公司;深圳基本半导体有限公司;浙江大学电气工程学院;士兰微电子股份有限公司;捷捷半导体有限公司;上海季丰电子股份有限公司;北京中科新微特科技开发股份有限公司;杭州电子科技大学;中国计量大学

发布部门

团体标准-浙江省质量协会