半导体材料痕量杂质分析用超纯树脂器皿
T/CNIA 0143-2022
- 标准号
- T/CNIA 0143-2022
- 标准名称
- 半导体材料痕量杂质分析用超纯树脂器皿
- 状态
- 现行
- 发布日期
- 2022-02-28
- 实施日期
- 2022-08-01
- ICS 分类
- 71.040.20 实验室器皿和有关仪器
- 起草单位
- 江苏赛夫特半导体材料检测技术有限公司;北京诚驿恒仪科技有限公司;苏州汉谱埃文材料科技有限公司;新疆大全新能源股份有限公司;集萃新材料研发有限公司;新特能源股份有限公司
- 发布部门
- 团体标准-中国有色金属工业协会